显微测量仪_第(11)页-深圳市中图仪器股份有限公司
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  • NS200探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试
    NS200探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试

    中图仪器NS系列探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

    时间:2024-07-18型号:NS200访问量:472
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  • NS200国产台阶仪测量稳定高效
    NS200国产台阶仪测量稳定高效

    NS系列国产台阶仪测量稳定高效,仪器采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。

    时间:2024-07-18型号:NS200访问量:532
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  • VT6100共聚焦激光扫描显微镜品牌
    VT6100共聚焦激光扫描显微镜品牌

    中图仪器VT6000共聚焦激光扫描显微镜品牌基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析的精密光学仪器,一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。

    时间:2024-06-21型号:VT6100访问量:621
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  • SuperViewW1光学平面度检测设备
    SuperViewW1光学平面度检测设备

    中图仪器SuperViewW光学平面度检测设备是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

    时间:2024-06-21型号:SuperViewW1访问量:510
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  • SuperViewW1国产3D白光干涉仪
    SuperViewW1国产3D白光干涉仪

    中图仪器SuperViewW国产3D白光干涉仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。

    时间:2024-05-14型号:SuperViewW1访问量:576
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  • NS200亚埃级垂直分辨力台阶仪
    NS200亚埃级垂直分辨力台阶仪

    中图仪器NS系列亚埃级垂直分辨力台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。其采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

    时间:2024-07-18型号:NS200访问量:473
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  • VT6100激光共聚焦3D显微镜
    VT6100激光共聚焦3D显微镜

    中图仪器VT6000系列激光共聚焦3D显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它基于光学共轭共焦原理,结合精密纵向扫描,以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像,从而进行分析的精密光学仪器,一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。

    时间:2024-06-24型号:VT6100访问量:552
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  • NS200台阶仪高精度薄膜厚度与台阶高度测量
    NS200台阶仪高精度薄膜厚度与台阶高度测量

    台阶仪高精度薄膜厚度与台阶高度测量软件包含多个模块。500万像素高分辨率彩色摄像机,即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上,使得测量更加直观。

    时间:2024-07-18型号:NS200访问量:492
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