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高精度光学3D表面轮廓仪

产品简介

SuperViewW高精度光学3D表面轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。覆盖半导体、3C电子、光学加工、汽车零部件、MEMS器件等领域,兼容多种材质(透明、高反光、黑色等)。

产品型号:SuperViewW1
更新时间:2025-03-31
厂商性质:生产厂家
访问量:39
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中图仪器SuperViewW高精度光学3D表面轮廓仪基于白光干涉技术,分辨率达0.1nm,支持从超光滑到粗糙表面的全类型样件检测。覆盖半导体、3C电子、光学加工、汽车零部件、MEMS器件等领域,兼容多种材质(透明、高反光、黑色等)。

高精度光学3D表面轮廓仪


SuperViewW高精度光学3D表面轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。


产品特点

1、干涉物镜

不通倍率的镜头,适应于从超光滑到粗糙度各种表面类型的样品。

2、双通道气浮隔振系统

外接气源和加压装置直接充气的双通道气浮隔振系统,可有效隔离地面传导的振动噪声。

3、声波隔振防护

仪器外壳与内部运动机构采用了分离式设计,有效隔离了声波振动的传导。

4、水平调整装置

倾斜调整旋钮,调整条纹宽度,提高3D图像的重建精度。

5、便携式操纵杆

采用人体工程学设计,集成了XYZ三轴位移和速度、光源亮度的自动控制,并配有紧急停止按钮。

6、真空吸附台

专为半导体晶圆片定制的真空吸附台,确保样品在测量过程中不受空气中微弱气流扰动的影像。

7、3D重建算法

自动滤除样品表面噪点,在硬件系统的配合下,测量精度可达亚纳米级别。


自研3D显微测量软件平台Xtremevision Pro

高精度光学3D表面轮廓仪

Xtremevision Pro

全自主开发的第二代显微3D测量软件平台,集成了图像扫描、3D分析、影像测量、自动化测量等四个大的功能模块,能够适配中图W系列、VT系列、WT系列所有3D仪器机型,可自主识别机型种类,二合一机型可在白光干涉和共聚焦显微镜中做到自动切换扫描模式。

Xtremevision Pro 移植了中图在影像闪测领域的成功经验,重构了显微影像测量功能,可针对微观平面轮廓尺寸的点、线间的距离、角度、半径等参数进行直接测量和自动匹配测量。


自动化mark点识别坐标定位自动化功能

高精度光学3D表面轮廓仪

Mark点影像识别自动坐标位置校正,多区域坐标点自动定位测量与分析,可组合式完成粗糙度、轮廓尺寸的批量自动化测量。


自动拼接功能

高精度光学3D表面轮廓仪

支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量。


应用领域图片

对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

高精度光学3D表面轮廓仪


部分技术指标

型号W1
光源
白光LED
影像系统1024×1024
干涉物镜

标配:10×

选配:2.5×;5×;20×;50×;100×

光学ZOOM

标配:0.5×

选配:0.375×;0.75×;1×

物镜塔台

标配:3孔手动

选配:5孔电动


XY位移平台

尺寸320×200㎜
移动范围140×100㎜
负载10kg
控制方式电动
Z轴聚焦行程100㎜
控制方式电动
Z向扫描范围10 ㎜
主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜

恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。

如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。

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